Il latte rimane fresco solo per pochi giorni o mesi, a seconda delle condizioni di conservazione, della tecnica di lavorazione e del confezionamento. A causa del deterioramento di questo alimento prima del punto vendita o dopo aver raggiunto il consumatore, ogni anno ne viene sprecata un’enorme quantità.

L’imballaggio multistrato è una soluzione innovativa a questo problema, in quanto assicura che il latte rimanga fresco per un periodo prolungato senza l’uso di conservanti e basse temperature. Tuttavia, anche con questo tipo di imballaggio, a volte il latte può andare a male a causa di shock termici e danni all’imballaggio durante il trasporto e la distribuzione.

In questi casi, i consumatori possono scoprire se il latte è fresco o no solo quando aprono la confezione. Pertanto, vi è la necessità di rilevare la qualità del latte all’interno di un contenitore.

In questo lavoro, è stato sviluppato un nuovo metodo non invasivo per rilevare la freschezza del latte confezionato utilizzando un tag NFC (Near Field Communication) capacitivo e uno smartphone abilitato per NFC.

Un cambiamento di capacità attraverso il barattolo del latte (dovuto a una variazione nella costante dielettrica del latte) è stato catturato utilizzando un condensatore a piastre parallele integrato nel tag NFC standard.

La variazione di capacità, attraverso il barattolo di plastica, è stata osservata nell’intervallo 40,5-41,6 pF per il latte fresco e nell’intervallo 42,1-45,6 pF per il latte avariato. Allo stesso modo, 36,8-40,6 pF per il latte fresco e 40,9-42,7 pF per il latte avariato quando durante l’osservazione in un contenitore di vetro.

Lo smartphone visualizza un messaggio tipo “il latte è fresco” o “il latte è rovinato” durante la scansione di un tag NFC capacitivo.

DOI: 10.1016/j.jfoodeng.2023.111424

Un metodo non invasivo per la rilevazione della freschezza del latte confezionato

A non-invasive method for detection of freshness of packaged milk. Journal of Food Engineering - Tomo 346, giugno 2023

S. Kapse, P. Kedia, A. Kumar, S. Kausley, P. Pal, B. Rai

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